B250537:＜半導体の放熱評価のための＞過渡熱抵抗測定の基礎と測定ノウハウおよび構造関数の活用方法 | 技術セミナーの開催・書籍出版　サイエンス＆テクノロジー＜Ｓ＆Ｔ＞

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セミナーセミナー番号:B250537(過渡熱抵抗測定)

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＜半導体の放熱評価のための＞
過渡熱抵抗測定の基礎と測定ノウハウ
および構造関数の活用方法

受講可能な形式：【Live配信(アーカイブ配信付)】のみ

過渡熱抵抗測定の測定・評価方法、構造関数の導出と活用方法、測定ノウハウ、シミュレーションへの応用、SiC MOSFETやGaN HEMT等の新しいデバイスの測定手法、陥りがちな問題とその回避方法など。基礎から、効果的に活用するための実践的なノウハウまでを解説します。

日時

2025年5月27日（火） 13:00～16:30

受講料(税込)

各種割引特典

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　　※お申込みフォームで【テレワーク応援キャンペーン】を選択のうえお申込みください。
　　※他の割引は併用できません。

配布資料

PDFデータ(印刷可・編集不可)
※開催2日前を目安に、マイページよりダウンロード可となります。

オンライン配信

ZoomによるLive配信 ►受講方法・接続確認（申込み前に必ずご確認ください）
■アーカイブ配信について
　視聴期間：終了翌営業日から7日間［5/28～6/3］を予定
　※動画は未編集のものになります。
　※視聴ページは、終了翌営業日の午前中にはマイページにリンクを設定する予定です。

備考

※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。
※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。

得られる知識

・過渡熱抵抗測定の基礎知識
・過渡熱抵抗測定の活用事例（測定事例、シミュレーションとのコラボ）
・過渡熱抵抗測定の測定ノウハウ（やっていいこと・わるいこと）
・電気系エンジニアが陥りがちな2つの罠、およびそれらの回避方法

対象

・半導体の熱対策で苦労されている方（熱対策から熱設計に持っていきたい方）
・半導体の放熱評価で熱電対、サーモグラフィーで苦労されている方
・過渡熱抵抗測定を始める方、まだしっくり来ていない方
・半導体パッケージの熱流体シミュレーション結果が実機と合わず、苦労されている方
・構造関数の使い方にまだ自信がない方
・半導体設計をされている方（特にパッケージング）
・放熱材料を開発されている方

※講師からのアフターフォローのため、お客様情報（御社名・御名前・メールアドレス）を講師に共有させていただく予定です。任意ですので、共有不可の方はセミナー終了後にお知らせください。

セミナーリクエスト

セミナー講師

シーメンス株式会社　技術営業本部　シミュレーション＆TEST部　フィジカルテスティング　マネージャー　博士（工学）　原智章　氏

専門：半導体熱測定・解析シミュレーション、信頼性評価（パワーサイクル試験）
2003年東京工業大学大学院情報理工学研究科情報環境学専攻修士課程修了
2003年株式会社キーエンス入社
2013年メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社入社
2018年 M&Aによりシーメンス株式会社に転籍
2021年大阪大学大学院工学研究科電気電子情報工学専攻博士課程修了
ホームページ：https://plm.sw.siemens.com/en-US/simcenter/physical-testing/micred/

セミナー趣旨

　近年、我々を取り巻く電子機器の小型軽量化がますます進み、設計者にとっては放熱設計が一段と難しくなってきています。過渡熱抵抗測定（単に過渡熱測定とも呼ばれます）は発熱源からアンビエントに至る放熱経路を明らかにする測定手法です。放熱経路に存在する各部材の寄与度合いを明らかにすることができ、新材料の検討、不良解析、耐久試験前後の相対比較など、さまざまな分野で活用されています。開発期間の短縮のためにシミュレーションの活用場面が増えてきていますが、シミュレーションと実機の乖離を埋めるためにも過渡熱測定の測定結果がしばしば使われます。
　過渡熱測定は、測定対象物に電線をつなぎ電流を流して電圧を測るだけの試験です。しかし、単に電流を流して電圧を読み取るだけでも、正しく測定をするためのノウハウがございます。また、最近話題の化合物半導体などの新しいデバイスの測定においては、ひと工夫必要です。本講演ではそのあたりを紹介したいと思います。
　放熱設計に携わる方に対し、この業界で10年以上過渡熱測定の有用性を紹介してきました。皆様がどのような課題を抱え、どのような苦労をされ、どのようにそれらを乗り越えて来られたかを総括いたします。先人たちの知恵、工夫など、過渡熱測定経験者には復習を兼ねて、これから過渡熱測定を始めるという方には測定をジャンプスタートできるようにするための内容をご提供できればと思っています。

セミナー講演内容

１．過渡熱抵抗測定の基礎
　1.1 過渡熱抵抗測定の目的
　1.2 過渡熱抵抗測定のスコープ
　1.3 熱電対やサーモグラフィーによる測定に対して優れている点
　1.4 評価手法（測定から構造関数の導出まで）
　1.5 構造関数の活用事例

２．過渡熱抵抗測定のノウハウ
　2.1 何よりも大事なこと：何のための測定か、を明確にする
　2.2 配線ノウハウ
　2.3 測定セッティング関連
　2.4 測定再現性の確認方法

３．過渡熱抵抗測定のシミュレーションへの応用
　3.1 シミュレーションを行う解析屋さんが過渡熱抵抗測定結果を欲しがる理由
　3.2 シミュレーションモデルキャリブレーションの概要
　3.3 両面放熱パワーモジュールを使ったシミュレーションモデルキャリブレーション事例

４．化合物半導体など、新しいデバイスの過渡熱抵抗測定手法
　4.1 従来のシリコン（Si）と何が違う？
　4.2 SiC MOSFETの測定手法
　4.3 GaN HEMTの測定手法
　4.4 RC-IGBTの測定手法

５．電気系エンジニアが陥りがちな2つの罠
　5.1 発熱源から複数の放熱経路を持つトポロジーを使いがち
　5.2 放熱経路を示すRCラダーの各ノードを材料ごとに分けてしまう
　5.3 放熱経路の正しい捉え方

６．過渡熱抵抗測定が行われる信頼性評価試験
　6.1 パワーサイクル試験
　6.2 出荷・受け入れ検査

　□質疑応答□

セミナーリクエスト

セミナーセミナー番号:B250537(過渡熱抵抗測定)

＜半導体の放熱評価のための＞過渡熱抵抗測定の基礎と測定ノウハウおよび構造関数の活用方法

1名分無料適用条件

セミナー講師

セミナー趣旨

セミナー講演内容

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