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May 8, 2017
半導体テスト技術の基礎と動向
品質、信頼性、セキュリティ、コスト、歩留まり etc.
生成AI時代の半導体・電子機器を支える基盤技術を学ぶ
受講可能な形式：【Live配信(アーカイブ配信付)】のみ
［キーワード］半導体 / テスト / 設計 / 品質 / コスト / 信頼性 / セキュリティ / AI / 技術動向
| ── 半導体技術の進化・複雑化によりその重要性を増すテストを学ぶ ── 半導体テストの種類・意義などの基礎知識から、最新技術動向、そしてAI用等の半導体で非常に重要となる 理論回路のテスト技術については、テスト品質とテストコストを両立させるポイントも含めて詳説します。 |
［キーワード］半導体 / テスト / 設計 / 品質 / コスト / 信頼性 / セキュリティ / AI / 技術動向
| 日時 | 2025年7月9日（水） 10:30～16:30 |
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|---|---|---|---|---|
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受講料(税込)
各種割引特典
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55,000円
( E-Mail案内登録価格 52,250円 )
S&T会員登録とE-Mail案内登録特典について
定価：本体50,000円＋税5,000円
E-Mail案内登録価格：本体47,500円＋税4,750円
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E-Mail案内登録なら、2名同時申込みで1名分無料
1名分無料適用条件
2名で55,000円 (2名ともE-Mail案内登録必須／１名あたり定価半額の27,500円)
1名申込みの場合：受講料 44,000円(E-Mail案内登録価格 42,020円 ) 定価：本体40,000円＋税4,000円 E-Mail案内登録価格：本体38,200円＋税3,820円 ※１名様でオンライン配信セミナーを受講する場合、上記特別価格になります。 ※お申込みフォームで【テレワーク応援キャンペーン】を選択のうえお申込みください。 ※他の割引は併用できません。
3名以上のお申込みで1名あたり：受講料 24,200円 本体22,000円＋税2,200円(1名あたり) ※受講者全員のE-Mail案内登録が必須です。 ※お申込みフォームで【半導体産業応援キャンペーン】を選択のうえお申込みください。 ※本ページからのお申込みに限り適用いたします。他の割引は併用できません。
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| 配布資料 | PDFテキスト(印刷可・編集不可) ※開催2日前を目安に、弊社HPのマイページよりダウンロード可となります。 | |||
| オンライン配信 | ZoomによるLive配信 ►受講方法・接続確認（申込み前に必ずご確認ください） セミナー視聴・資料ダウンロードはマイページから お申し込み後、マイページの「セミナー資料ダウンロード／映像視聴ページ」に お申込み済みのセミナー一覧が表示されますので、該当セミナーをクリックしてください。 開催日の【２日前】より視聴用リンクと配布用資料のダウンロードリンクが表示されます。 アーカイブ(見逃し)配信について 視聴期間：7月10日(火)PM～7月16日(水) ※アーカイブは原則として編集は行いません ※視聴準備が整い次第、担当から視聴開始のメールご連絡をいたします。 (開催終了後にマイページでご案内するZoomの録画視聴用リンクからご視聴いただきます） | |||
| 備考 | ※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。 ※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。 | |||
| 得られる知識 ・半導体テストに関する基礎知識 ・論理回路テストに関する一般知識 ・テスト技術の動向に関する知識 |
| 受講対象 ・半導体の設計や製造に関わる方 ・電子機器の開発に関わる方 ※とくに予備知識は必要ありませんが、論理回路の基礎知識があればより理解が深まります。 |
セミナー講師
【専門】テスト設計技術，高信頼化技術
1982年に京都大学大学院博士後期課程を修了(工学博士)。以降，(株)日立製作所，(株)ルネサステクノロジ，(株)半導体理工学研究センター及び奈良先端科学技術大学院大学にてテスト設計技術等の研究開発に従事。その後，群馬大学にてテスト設計技術に関する研究に協力するとともに，日本大学等にて非常勤講師を担当。
セミナー趣旨
ChatGPTやGemini等の生成AIが広く普及するとともに、その処理に要する計算能力を供給する半導体の需要は非常に高まっています。また、電気自動車やスマートシティなどでも電子システムが中心的な役割を担っています。さらに、半導体はデジタル変革(DX)のキーデバイスともなっており、半導体集積回路やそれを使用する電子機器の品質、信頼性及びセキュリティは益々重要となっています。このような背景のもと、これらの重要な要件を支える基盤技術として、半導体テスト技術に対する注目が高まっています。
そこで、本講演では、半導体テスト技術について基礎から分かりやすく紹介します。とくに、AI用等の半導体で非常に重要となる論理回路のテスト技術に関して、実際にテストに用いるテストパターンを作成する「テスト生成」及びテスト生成を実用的な時間で可能にする「テスト容易化設計」について、テスト品質とテストコストを両立させるポイントを含めて詳しく説明します。さらに，最新の技術動向として，自動車用半導体等でとくに重要となる「高品質テスト」，テスト技術への「AI」の活用，テスト技術と「セキュリティ」の関わりについて最近の国際会議の論文に基づいて紹介します。
そこで、本講演では、半導体テスト技術について基礎から分かりやすく紹介します。とくに、AI用等の半導体で非常に重要となる論理回路のテスト技術に関して、実際にテストに用いるテストパターンを作成する「テスト生成」及びテスト生成を実用的な時間で可能にする「テスト容易化設計」について、テスト品質とテストコストを両立させるポイントを含めて詳しく説明します。さらに，最新の技術動向として，自動車用半導体等でとくに重要となる「高品質テスト」，テスト技術への「AI」の活用，テスト技術と「セキュリティ」の関わりについて最近の国際会議の論文に基づいて紹介します。
セミナー講演内容
１．半導体のテストについて
・半導体のライフサイクルにおけるテストとその意義
・テストの種類とテスト装置
・テストコストについて
・テスト品質について
２．テスト設計技術
2.1 テスト生成技術
・故障モデル
・故障シミュレーション
・テスト生成アルゴリズム
2.2 テスト容易化設計技術
・スキャン設計
・組込み自己テスト
３．最新テスト技術動向
3.1 高品質テスト技術
・故障モデルの高度化
・アナログテストの高品質化
3.2 テストへのAI応用
・AI応用による品質向上
・AI応用によるコスト削減
・AI応用による歩留り向上
3.3 テストとセキュリティ
・回路の難読化
・偽造ICへの対策
４．まとめ
□質疑応答□
・半導体のライフサイクルにおけるテストとその意義
・テストの種類とテスト装置
・テストコストについて
・テスト品質について
２．テスト設計技術
2.1 テスト生成技術
・故障モデル
・故障シミュレーション
・テスト生成アルゴリズム
2.2 テスト容易化設計技術
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３．最新テスト技術動向
3.1 高品質テスト技術
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