FT-IRによる異物分析
~異物の発生から問題解決まで事例・実例を用いて解説~
受講可能な形式:【ライブ配信】or【アーカイブ配信】のみ
FT-IRの基礎的な知識を得て、効率的で的確な異物分析を
異物の収集方法、確認できる情報、FT-IRの測定方法、解析方法、、、
FT-IRのメリット/デメリットとちょっとしたコツ
どんな情報が得られるのか、測定での約束事、やってはいけないこと、
サンプリング、前処理、スペクトルの処理・解析、、、、、、
日時 | 【ライブ配信】 2025年5月27日(火) 13:00~16:30 |
|
---|---|---|
【アーカイブ配信】 2025年6月12日(木) まで受付(視聴期間:6/12~6/25) |
||
受講料(税込)
各種割引特典
|
49,500円
( E-Mail案内登録価格 46,970円 )
S&T会員登録とE-Mail案内登録特典について
定価:本体45,000円+税4,500円
E-Mail案内登録価格:本体42,700円+税4,270円
|
|
E-Mail案内登録なら、2名同時申込みで1名分無料
1名分無料適用条件
2名で49,500円 (2名ともE-Mail案内登録必須/1名あたり定価半額の24,750円)
定価:本体36,000円+税3,600円 E-Mail案内登録価格:本体34,400円+税3,440円 ※1名様でオンライン配信セミナーを受講する場合、上記特別価格になります。 ※お申込みフォームで【テレワーク応援キャンペーン】を選択のうえお申込みください。 ※他の割引は併用できません。 |
||
配布資料 | PDFデータ(印刷可・編集不可) ※開催2日前を目安に、S&T会員のマイページよりダウンロード可となります。 ※アーカイブ配信受講の場合は配信開始日からダウンロード可となります。 | |
オンライン配信 | ライブ配信(Zoom) ►受講方法・接続確認(申込み前に必ずご確認ください) アーカイブ配信 ►受講方法・視聴環境確認(申込み前に必ずご確認ください) | |
備考 | ※講義中の録音・撮影はご遠慮ください。 ※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。 |
セミナー講師
あなりす 代表 工学博士 岡田 きよみ 氏
【講師紹介】
【講師紹介】
セミナー趣旨
本セミナーは、FT-IRを異物分析で活用すること、問題解決や解析において関係者間の情報が重要であることに焦点をあてたセミナーです。異物分析において重要なことは、迅速かつ簡便に原因を知り、異物クレームへ の対処や異物発生の抑制へとつなげることにあります。
本講演では、目に見える数百μm~の異物を対象に、異物の収集方法やその際に確認すべき情報と提供すべき情報、FT-IRを使用した測定と解析方法、問題解決といった一連の流れを解説します。問題解決までの一連の操作がご理解いただけるように、なるべく多くの事例を用いて話を進めていきます。異物の分析手順、FT-IRの基礎的事項の確認、本体のATR法を中心に測定方法別のきれいなスペクトルを得るコツ、解析方法、実施例と話を進めていきます。
本講演では、目に見える数百μm~の異物を対象に、異物の収集方法やその際に確認すべき情報と提供すべき情報、FT-IRを使用した測定と解析方法、問題解決といった一連の流れを解説します。問題解決までの一連の操作がご理解いただけるように、なるべく多くの事例を用いて話を進めていきます。異物の分析手順、FT-IRの基礎的事項の確認、本体のATR法を中心に測定方法別のきれいなスペクトルを得るコツ、解析方法、実施例と話を進めていきます。
セミナー講演内容
1.はじめに
1-1.分析の目的
1-2.コミュニケーション
2.異物の概要
2-1.異物とは何か
2-2.異物の種類
3.異物の分析方法
3-1.異物分析で大切なこと
3-2.異物分析の手順
3-3.製造工程でわかること
3-4.観察でわかること
3-5.異物のサンプリング
3-6.異物の情報収集
3-7.問題解決に向けてのアプローチ
4.FT-IRを使用した異物分析
4-1.異物分析の中のFT-IR
4-2.FT-IRの概要
4-2-1.FT-IRでどんな情報が得られるのか
4-2-2.FT-IRの測定
4-3.異物で使用されるFT-IRの測定方法ときれいなスペクトルを得るコツ
4-4.異物の大きさと空間分解能
4-5.FT-IR測定のための前処理
4-6.スペクトルの解析
4-6-1.よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
4-6-2.データベースをうまく使う
4-6-3.問題解決のための解析
5.FT-IR以外の分析装置
5-1.SEM-EDS
5-2.蛍光X線
5-3.GC、GC-MSおよびLC
6.異物分析の事例
6-1.分散不良による異物分析
6-2.食品中の異物分析
6-3.劣化に起因した異物分析
6-4.歩留まり向上のための異物分析
6-5.原因探索実験によって起因物質を検証した異物分析
6-6.長期データ蓄積によって解決した異物分析
7.まとめ
質疑応答
1-1.分析の目的
1-2.コミュニケーション
2.異物の概要
2-1.異物とは何か
2-2.異物の種類
3.異物の分析方法
3-1.異物分析で大切なこと
3-2.異物分析の手順
3-3.製造工程でわかること
3-4.観察でわかること
3-5.異物のサンプリング
3-6.異物の情報収集
3-7.問題解決に向けてのアプローチ
4.FT-IRを使用した異物分析
4-1.異物分析の中のFT-IR
4-2.FT-IRの概要
4-2-1.FT-IRでどんな情報が得られるのか
4-2-2.FT-IRの測定
4-3.異物で使用されるFT-IRの測定方法ときれいなスペクトルを得るコツ
4-4.異物の大きさと空間分解能
4-5.FT-IR測定のための前処理
4-6.スペクトルの解析
4-6-1.よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
4-6-2.データベースをうまく使う
4-6-3.問題解決のための解析
5.FT-IR以外の分析装置
5-1.SEM-EDS
5-2.蛍光X線
5-3.GC、GC-MSおよびLC
6.異物分析の事例
6-1.分散不良による異物分析
6-2.食品中の異物分析
6-3.劣化に起因した異物分析
6-4.歩留まり向上のための異物分析
6-5.原因探索実験によって起因物質を検証した異物分析
6-6.長期データ蓄積によって解決した異物分析
7.まとめ
質疑応答
関連商品
当サイトはグローバルサイン社によりセキュリティ認証をされています。
SSL/TLS対応ページ(https)からの情報送信は暗号化により保護されます。
SSL/TLS対応ページ(https)からの情報送信は暗号化により保護されます。